掃描隧道顯微鏡的探針大多采用的是納米鎢針，而納米鎢針是由具有良好的導電性和機械強度的高純鎢絲制備而來。專家表示，掃描隧道顯微鏡（STM）與XRD、LEED等利用衍射法的倒易空間成像不同，其能夠直觀地對導電樣品在實空間進行原子分辨率的成像，在觀察物質表面原子排列、認識電子結構等方面取得了顯著成效。
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而獲得高質量成像的前提是——超高的空間分辨率。根據STM成像理論，納米鎢針的針尖尖端尺寸（即曲率半徑）直接決定STM的分辨率。所以，要想獲得高分辨，就要用更尖銳的針尖來成像。因而自STM誕生到目前為止，成像分辨率的不斷提高一直是本領域追求的目標。
