鎢針的品質直接關系著掃描電子顯微鏡（STM）的探測能力。鎢針尖的大小、形狀和化學同一性不僅影響STM圖像的分辨率和圖像的形狀，也影響測定的電子態。因此，鎢針尖的制備顯得尤為重要，理想的結果是獲得具有特定納米尺寸曲率半徑的鎢針尖。
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傳統的制備STM探測鎢針的方法一般采用機械剪針法、電化學刻蝕、電子或離子束轟擊等方法。然而，這幾種方法在納米尺度，都無法可控地制備出特定尖端尺寸的探針。因而專家提出了一種新的制備方法，即在場離子顯微鏡平臺上，在電化學刻蝕的基礎上，利用場致刻蝕技術，實時地、可控地制備出特定納米尺寸曲率半徑的鎢針尖。
