WO3粉末是一種無機電致變色材料，也是最常用來制備電致變色器件的電致變色層即電致變色薄膜的原料。對于所得薄膜，很重要的一點是，對其進行X射線衍射分析（XRD分析）。對此，有專家表示，因為制備的電致變色薄膜很薄，如果直接將涂覆在基板上的薄膜用于XRD分析，薄膜微弱的衍射峰將被更強的基板衍射峰取代。
更多內容請訪問：
http://www.tungsten-powder.com/chinese/tungsten_oxide.html
所以，專家們采用與電致變色薄膜相同條件下處理得到的粉末代替薄膜進行XRD測試。XRD測試結果采用型號為RigakaD/max2500v/pc的衍射儀，用CuKα輻射，衍射光束經Ni單色器濾波，其波長λ＝0.15418nm，管壓40KV，管流200mA，掃描角度范圍選擇10～90o。對合成粉體進行相分析，并采用Jade軟件分析XRD衍射圖。WO3的標準XRD卡片，其卡邊號是20-1324，其晶型為斜方晶型。
